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 Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Dielectric material AgNPs Cable Polymers Electric field PTFE Mechanical properties Polarization Silver Bipolar charge transport model Transport Interfacial charge Conductivity Dielectric strength Insulation Power cables Current measurement KPFM Electron beam EFM Pulsed electro acoustic method Cathodoluminescence Optimization Polymeric insulation Polyethylene Breakdown Luminescence Conduction current Space charge Proteins LIMM Electron emission Field distribution Thin films Rotating machines Ageing Polypropylene LDPE Cross-linked polyethylene PEA Insulating polymers Electroluminescence DC stress Cross-linking by-products Fluid model AFM Electrical conductivity Plasma processes Charge trapping Electric potential Dielectric Silicon compounds Electrical engineering Nanostructured dielectrics SiO2 Charge injection Dielectric properties Dielectric charging C-AFM Electric field distribution Electrical insulation Charge transport Atomic force microscopy Thermal aging Electrostatics Charge d'espace Electrical properties E-Beam Electron-beam irradiation Electron beams Electronic irradiation Epoxy resin FTIR Radiation effects Ac electric field Permittivity Polymer Charge measurement HVDC Accumulation characteristics DC conductivity HVDC cable Acoustic wave propagation Silver nanoparticles Partial discharges Dielectric materials FLIMM Cumyl alcohol Dielectric films Modeling Electrical ageing Charge transport model XLPE Electrodes Aluminum oxide Electromechanical stress Plasma process Polyimide Dielectrics Polarity reversal

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