Analog and Mixed-Signal Test - Université Pierre et Marie Curie Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2016

Analog and Mixed-Signal Test

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Ingénierie assistée par ordinateur Modélisation et simulation Electronique
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Haralampos Stratigopoulos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-02175745

Soumis le : mercredi 10 juillet 2019-20:34:11

Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:42:03

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Dates et versions

hal-02175745 , version 1 (10-07-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02175745 , version 1

Citer

Haralampos-G. Stratigopoulos, Bozena Kaminska. Analog and Mixed-Signal Test. Grant Martin; Luciano Lavagno; Igor Markov. Electronic Design Automation for Integrated Circuits Handbook, CRC Press, 2016. ⟨hal-02175745⟩

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